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信息存储应用技术
  • 基于高细分插值线性处理电路的光栅三维位移测量系统
    基于高细分插值线性处理电路的光栅三维位移测量系统_中北大学_202510565528.1
    本发明属于微位移测量系统技术领域，具体涉及一种基于高细分插值线性处理电路的光栅三维位移测量系统，包括光栅泰伯像三维微位移装置、90度移相电路、直流偏置电路、细分插值电路，所述光栅泰伯像三维微位移装置与90度移相电路电性连接，所述90度移相电...
    2025-07-05
  • 基于正零点正反馈的PID结构的参数整定方法及装置
    基于正零点正反馈的PID结构的参数整定方法及装置_国家能源集团科学技术研究院有限公司_202510449973.1
    本申请涉及一种基于正零点正反馈的PID结构的参数整定方法及装置，其中，方法包括：通过设计一种基于正零点正反馈的PID控制器结构，该控制器结构采用正反馈结构，并引入正零点补偿环节，旨在增强系统对时滞的适应能力，提升控制器的响应速度和稳定性，同...
    2025-07-05
  • 一种冒烟测试方法及相关装置
    一种冒烟测试方法及相关装置_科大讯飞股份有限公司_202510382333.3
    本申请公开了一种冒烟测试方法及相关装置，涉及软件测试技术领域，包括：在获取待测试软件版本固件包之后；先在待测试设备上进行待测试软件版本固件包的升级；在升级成功后，根据预置测试用例配置文件中的目标冒烟测试用例的名称，从预置测试用例库中，读取对...
    2025-07-05
  • 接口测试方法、装置、计算设备及计算机存储介质
    接口测试方法、装置、计算设备及计算机存储介质_上海哔哩哔哩科技有限公司_202210499260.2
    本发明实施例公开了接口测试方法、装置、计算设备及计算机存储介质。方法包括：在目标接口的测试用例执行时，获取预先生成的目标接口的默认请求，该默认请求中包含有目标接口所需的所有请求参数以及各个请求参数的第一参数值；解析目标接口的测试用例文档，判...
    2025-07-05
  • 一种测试用例确定方法、装置、电子设备及存储介质
    一种测试用例确定方法、装置、电子设备及存储介质_中国农业银行股份有限公司_202210124049.2
    本发明实施例公开了一种测试用例确定方法、装置、电子设备及存储介质。所述测试用例确定方法，包括：获取测试用例关联数据；其中，测试用例关联数据包括历史测试用例、待测试数据以及用例权重；根据历史测试用例生成初始生成树模型，并根据待测试数据生成待匹...
    2025-07-05
  • 基于人工智能的透镜焦距测量系统及其方法
    基于人工智能的透镜焦距测量系统及其方法_广东海洋大学_202510674370.1
    本发明属于光学测试和人工智能应用技术领域，尤其涉及基于人工智能的透镜焦距测量系统及其方法，通过平移组件调节待测透镜与图像接收组件之间的距离以使十字形图案中心的清晰度与标准图案的清晰度一致，通过平移组件的第一旋转端调节待测透镜以竖直直径为轴线...
    2025-07-05
  • 一种处理方法、装置及电子设备
    一种处理方法、装置及电子设备_鼎道智芯(上海)半导体有限公司_202510379403.X
    本申请公开了一种处理方法、装置及电子设备，该处理方法包括：根据测试设备和用于待测芯片的测试用例，生成所述测试设备支持的初始测试向量；基于所述初始测试向量，对所述待测芯片进行仿真验证，并基于仿真验证结果对所述初始测试向量进行调整，直至仿真验证...
    2025-07-05
  • 业务系统性能信息的处理方法、电子设备和程序产品
    业务系统性能信息的处理方法、电子设备和程序产品_贝壳找房(北京)科技有限公司_202510337921.5
    本公开实施例公开了一种业务系统性能信息的处理方法、电子设备和计算机程序产品，通过获取用于业务系统的目标性能指标，从业务系统获取每一个所述目标性能指标的性能数据，基于任一个目标性能指标的性能数据确定该目标性能指标是否满足预设预警条件，在该目标...
    2025-07-05
  • 存储系统的操作方法以及存储系统
    存储系统的操作方法以及存储系统_新存科技(武汉)有限责任公司_202510333213.4
    本申请提供一种存储系统的操作方法，包括：累计存储器中个别被写入存储单元的数据写入次数，而产生对应于个别所述被写入存储单元的写入累计数值；以及，依据个别所述被写入存储单元的相邻存储单元的样态，在所述写入累计数值到达根据所述样态而设定的阈值时，...
    2025-07-05
  • 一种磁环圆度检测机
    一种磁环圆度检测机_平武进利源电子科技有限公司_202422311643.X
    本实用新型涉及磁环检测技术领域，具体为一种磁环圆度检测机，包括操作台，所述操作台的底部四角处均安装有支腿，所述操作台的顶部中间安装有夹持组件，所述操作台的顶部一侧表面安装有支撑底座，所述支撑底座的顶部表面安装有电动伸缩杆的一端，所述电动伸缩...
    2025-07-05
  • 一种可多方位调节的摇篮式光栅激光复合测量装置
    一种可多方位调节的摇篮式光栅激光复合测量装置_深度光学科技(天津)有限公司_202422111489.1
    本实用新型公开了一种可多方位调节的摇篮式光栅激光复合测量装置，涉及光栅复合测量技术领域，包括箱体、位移台、测量装置本体、支撑组件、固定调节组件，所述位移台活动连接于箱体的内部，所述支撑组件包括有支撑底座，所述支撑底座固定连接于位移台的上端，...
    2025-07-05
  • GUI程序模糊测试方法、系统、计算机设备和存储介质
    GUI程序模糊测试方法、系统、计算机设备和存储介质_湖南泛联新安信息科技有限公司_202510724959.8
    本发明公开了一种GUI程序模糊测试方法、系统、计算机设备和存储介质，首先设计KVM虚拟机的超调用接口，然后设计QEMU虚拟机监控器用于响应KVM虚拟机超调用接口的调用号和对应的功能代码，编写封装了调用号和对应的功能代码的代码库供外部调用，将...
    2025-07-05
  • 故障注入后实现可观测的方法、系统、电子设备及介质
    故障注入后实现可观测的方法、系统、电子设备及介质_中国联合网络通信集团有限公司_202311863762.X
    本公开提供一种故障注入后实现可观测的方法、系统、电子设备及存储介质，以解决无法直接对故障注入的方法采样和观测的技术问题，所述方法包括：针对Java方法故障注入测试设置预设的采集点，所述采集点设置在故障注入之前；在故障注入测试开始后开启采样点...
    2025-07-05
  • 电压调节系统
    电压调节系统_美光科技公司_202411029424.0
    本公开涉及一种电压调节系统。控制电路系统耦合到第一电压调节电路和第二电压调节电路。所述控制电路系统确定是否满足信号准则。响应于确定已经满足所述信号准则，所述控制电路系统控制由第一电压调节电路和所述第二电压调节电路产生的电流的施加，以调整与由...
    2025-07-05
  • 一种用于电脑主板的温度智能监测装置及其控制方法
    一种用于电脑主板的温度智能监测装置及其控制方法_工蜂文化科技(广州)有限公司_202410725460.4
    本申请提供了一种用于电脑主板的温度智能监测装置及其控制方法，使用各个温变数据确定目标电脑主板在对应温控阶段的温度波动熵；通过电磁干扰数据确定磁热干扰量，依据磁热干扰量和各个温度波动熵确定在电磁干扰下对应温控阶段的电磁热量偏差；根据每个区间温...
    2025-07-05
  • 用于检测具有时变位错误率的存储器中的缺陷的方法和设备
    用于检测具有时变位错误率的存储器中的缺陷的方法和设备_美光科技公司_201980088355.1
    本文描述了与具有时变位错误率的存储器系统的存储器组件中的缺陷检测相关的实施例。处理装置进行错误恢复流程(ERF)以恢复数据单元，所述数据单元包括数据和指示何时写入所述数据单元的写入时间戳。所述处理装置使用对应于所述读取操作的位错误率(BER...
    2025-07-05
  • 电能表更换信息生成方法、装置、设备和计算机可读介质
    电能表更换信息生成方法、装置、设备和计算机可读介质_国网湖北省电力有限公司信息通信公司_202510562165.6
    本公开的实施例公开了电能表更换信息生成方法、装置、设备和计算机可读介质。该方法的一具体实施方式包括：获取电能表运行数据组；基于电能表运行数据组，生成电能表标准运行数据；基于电能表标准运行数据，生成电能表生存概率信息；基于电能表标准运行数据和...
    2025-07-05
  • 加工车间的环境控制设备的控制方法、装置、设备及介质
    加工车间的环境控制设备的控制方法、装置、设备及介质_上海金科机械制造有限公司_202510758493.3
    本发明公开了一种加工车间的环境控制设备的控制方法、装置、设备及介质，包括：接收一个环境控制设备发送的至少一个设备信号；根据至少一个设备信号构建非线性模型，根据非线性模型确定环境控制设备的系统类别；若环境控制设备的类别是弱非线性类别，则对至少...
    2025-07-05
  • 一种大口径反射式低温光学系统波前检测系统和方法
    一种大口径反射式低温光学系统波前检测系统和方法_中国科学院上海技术物理研究所_202510347665.8
    本发明公开了一种大口径反射式低温光学系统波前检测系统和方法，属于光学系统检测领域，包括干涉仪、低温真空罐、待测光学系统、标准平面镜、光学窗口、六维调节装置、液氮管路、检测补偿镜组、柔性冷链、隔热滑动平台和低温冷平台。本发明实现一种大口径反射...
    2025-07-05
  • 异常程序定位方法、测试系统、装置、设备、介质及产品
    异常程序定位方法、测试系统、装置、设备、介质及产品_宁德时代润智软件科技有限公司_202510750252.4
    本申请涉及一种异常程序定位方法、测试系统、装置、设备、介质及产品。该方法包括：在待测设备的硬件在环测试存在异常工况的情况下，确定待测设备的测试程序在异常工况时运行到的桩程序的位置；待测设备的测试程序中的关键程序位置预先通过插桩设置了多个桩程...
    2025-07-05
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