欧姆龙株式会社池田泰之获国家专利权
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龙图腾网获悉欧姆龙株式会社申请的专利检查系统以及检查方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115698681B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202180037604.1，技术领域涉及：G01N21/88；该发明授权检查系统以及检查方法是由池田泰之设计研发完成，并于2021-03-08向国家知识产权局提交的专利申请。
本检查系统以及检查方法在说明书摘要公布了：检查系统具有：发光装置，其用于照明对象物；准直透镜，其配置在发光装置与对象物之间；以及拍摄装置，其拍摄对象物。发光装置使发光位置可变。检查系统还具有图像分析部，该图像分析部通过对从发光位置互不相同的状态下的多次拍摄分别得到的多个拍摄图像进行分析，来生成各像素的值与在相应像素中映现的对象物的表面的法线方向对应的分析图像。由此，能够减少用于检查的调整的工夫，缺陷的检测精度提高。
本发明授权检查系统以及检查方法在权利要求书中公布了：1.一种检查系统，其检查对象物的表面，其中，该检查系统具有： 发光装置，其用于对所述对象物进行照明； 准直透镜，其配置在所述发光装置与所述对象物之间；以及 拍摄装置，其拍摄所述对象物， 所述发光装置使发光位置可变， 所述检查系统还具有图像分析部，该图像分析部通过对从所述发光位置互不相同的状态下的多次拍摄分别得到的多个拍摄图像进行分析，来生成各像素的值与在相应像素中映现的所述对象物的表面的法线方向对应的第1分析图像， 所述第1分析图像的各像素的值表示如下波形的相位或在该波形中亮度成为峰值的所述发光位置，所述波形表示所述多个拍摄图像中的相应像素的所述亮度与所述发光位置的关系， 所述图像分析部通过分析所述多个拍摄图像来进一步生成第2分析图像， 所述第2分析图像的各像素的值是如下波形的振幅，所述波形表示所述多个拍摄图像中的相应像素的亮度与所述发光位置的关系。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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