海光信息技术股份有限公司冉亮获国家专利权
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龙图腾网获悉海光信息技术股份有限公司申请的专利硅后测试的方法、系统、设备以及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114090355B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111362448.4，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权硅后测试的方法、系统、设备以及存储介质是由冉亮;潘杰设计研发完成，并于2021-11-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本硅后测试的方法、系统、设备以及存储介质在说明书摘要公布了：本公开提供一种硅后测试的方法、系统、设备以及存储介质，该方法包括：根据待测的芯片，获取随机配置信息；根据随机配置信息获取测试指令流；根据测试指令流获取指令级别随机的测试用例；在芯片上运行指令级别随机的测试用例以验证芯片。本公开的硅后测试方法通过生成和运行指令级别随机的测试用例，使得硅后也能通过大规模的回归测试来撞到尽可能多的场景，从而能够测试到更多场景，测试更加完备，测试的成本较低，能够在芯片推向市场前发现到芯片的缺陷。
本发明授权硅后测试的方法、系统、设备以及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种硅后测试的方法，包括： 根据待测的芯片，获取随机配置信息； 根据所述随机配置信息获取测试指令流； 根据所述测试指令流获取指令级别随机的测试用例； 在所述芯片上运行所述指令级别随机的测试用例以验证所述芯片； 其中，根据所述测试指令流获取所述指令级别随机的测试用例，包括： 初始化，以确定所述硅后测试的运行环境； 根据所述测试指令流获取至少一个指令级别随机的初始测试用例； 校验所述至少一个指令级别随机的初始测试用例，获取对应的至少一个带校验的指令级别随机的测试用例。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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