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龙图腾网获悉熵智科技(深圳)有限公司申请的专利物体表面3D测量方法、装置、设备及计算机可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115218781B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-07-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210543054.7，技术领域涉及：G01B11/00；该发明授权物体表面3D测量方法、装置、设备及计算机可读存储介质是由王彦喆;胡浩;李一哲设计研发完成，并于2022-05-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本物体表面3D测量方法、装置、设备及计算机可读存储介质在说明书摘要公布了：本发明属于光学测量技术领域，公开了一种物体表面3D测量方法、装置、设备及计算机可读存储介质。该方法包括：获取采样参数信息，根据所述采样参数信息确定所述3D测量控制设备的当前测量参数；根据所述当前测量参数对所述被测物体表面进行测量，得到所述被测物体表面的光谱图像数据；获取所述运动台的运动参数；根据所述光谱图像数据和运动参数确定所述被测物体表面的3D点云数据。通过先得到被测物体的采样信息自动化的设定好光谱传感器的相关参数，通过差异化的测量参数对被测物体进行测量，避免了测量特殊材料时，光谱传感器无法达到理想检测条件，提高了3D测量的适应性，相比于人工校正更加快速便捷。

本发明授权物体表面3D测量方法、装置、设备及计算机可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种物体表面3D测量方法，其特征在于，所述物体表面3D测量方法应用于3D测量控制设备，所述3D测量控制设备包括：光谱共焦传感器和运动台，所述光谱共焦传感器用于生成轴向聚焦光谱，并采集轴向聚焦光谱中被测物体表面的图像信息，所述运动台用于控制被测物体移动，以让所述被测物体表面均经过所述轴向聚焦光谱，所述物体表面3D测量方法包括： 获取所述被测物体的采样参数信息，所述采样参数信息包括所述被测物体的图像信息和或所述被测物体所处采样环境中的光学数据； 根据所述采样参数信息确定所述3D测量控制设备的当前测量参数，其中，所述当前测量参数包括用于消除光学背景噪声的去噪参数和用于消除光谱共焦传感器镜头畸变的标定参数；根据所述当前测量参数对所述被测物体表面进行测量，得到所述被测物体表面的光谱图像数据； 获取所述运动台的运动参数； 根据所述光谱图像数据和运动参数确定所述被测物体表面的3D点云数据； 所述根据所述采样参数信息确定所述3D测量控制设备的当前测量参数，包括： 根据所述采样参数信息确定所述被测物体表面的采样图像数据以及所述3D测量控制设备检测到的暗信号； 根据所述采样图像数据对所述3D测量控制设备进行融合标定，得到标定参数； 根据所述暗信号确定所述3D测量控制设备的去噪参数； 根据所述标定参数和所述去噪参数确定所述当前测量参数。

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